optex/奥泰斯CD5-LW25激光位移传感器用于检测透明薄膜的厚度

作者:admin   发布时间:2017/2/15 15:31:27   浏览次数:2692

CD5-LW25激光位移传感器常用于检测透明薄膜的厚度，重复精度：0.02μm。

在薄膜的涂层的生产工序中，我们需要知道其薄膜涂层的厚度，实时调节涂料机的工作

状态，而且需要对一线上的多点进行测量，通过判断这几的值得相对关系来判断涂料机的给薄膜的涂层到底是否均匀，误差是否在允许范围内。对于薄膜这种厚度非常薄的被测物来说这些都需要通过非接触式的传感器才能完成精确的无损测量

通过使用两个位移传感器对射分别检测透明薄膜的两面，从而实现厚度检测。

激光发射器通过镜头将可见红色激光射向被测物体表面，经物体反射的激光通过接收器镜头，被内部的CCD线性相机接收，根据不同的距离，CCD线性相机可以在不同的角度下'看见'这个光点。

根据这个角度及已知的激光和相机之间的距离，数字信号处理器就能计算出传感器和被测物体之间的距离。

同时，光束在接收元件的位置通过模拟和数字电路处理，并通过微处理器分析，计算出相应的输出值，并在用户设定的模拟量窗口内，按比例输出标准数据信号。

如果使用开关量输出，则在设定的窗口内导通，窗口之外截止。另外，模拟量与开关量输出可独立设置检测窗口。

采取三角测量法的激光位移传感器最高线性度可达1um，分辨率更是可达到0.1um的水平。

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